Monipuolisempi ja tarkempi - tiedät mitä ladot piirilevylle.
Mycronicin MY300-ladontakoneen sähköinen testausyksikkö on erittäin arvokas ja hyödyllinen ominaisuus luotettavan elektroniikan valmistajille. Mycronic tuo nyt markkinoille testausyksikön toisen sukupolven version, joka parantaa mittaustarkkuutta ja testattavien komponenttien valikoimaa useilla eri tavoilla:
Lisää testattavia komponentteja
Päivitetty ohjelmisto hyödyntää MY300-ladontakoneen laajempaa testauksen valikoimaa. Tämän seurauksena se voi käsitellä useampia pakkaus- ja komponenttityyppejä. Nyt voidaan testata FET-transistoreita, IGBT-transistoreita ja kaksinapaisia diodeja 3-nastaisissa pakkauksissa.
Laajennettu vastusten testausalue parannetulla mittaustarkkuudella
Testattavaa aluetta on laajennettu [0 W - 40 MW] arvoon [0 W - 100 MW], samalla kun [0 W - 10 W] -alueen tarkkuus on pienentynyt ± 0,1 W.
Parempi mittaustarkkuus ja laajempi testausalue kondensaattoreille
Alueella 100 nF - 10 µF olevat kondensaattorit on tyypillisesti suunniteltu korkean CV-keramiikan (esim. Z5U) kanssa ja tarvitsevat erittäin pienen, noin 1 V:n testausjännitteen. Tästä syystä 3PT1-testikorttia on parannettu 1 V:n kapasitanssitestillä, testialueen kasvaessa jopa 3uF saakka. Lisäksi on lisätty uusi matalajännitteinen polarisoitu testi, joka alkaa 800 nF:stä ja käyttää noin 1 V:n testausta. Aiempi [50 pF - 1 000 µF] kapasitanssitestausalue on laajennettu arvoon [0 pF - 10 000 µF].
Kaikki MY100-, MY200- ja MY300-SMD-ladontakoneet voidaan päivittää sähköiseen testausyksikön toisen sukupolven versioon. Vaatimuksena TPSys 5.1.3 tai uudempi ja uusi testikortti 3PT1 Ed-4.
Kysy lisää:
Jari Honkonen, puh. 01987111, Tämä sähköpostiosoite on suojattu spamboteilta. Tarvitset JavaScript-tuen nähdäksesi sen.
